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冷测试盖

操作节约成本/时间

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  • 创新的接口解决方案
  • 与分选机永久相连
  • 防止冻结接触
  • 源于直觉的设计创新
  • 单模块或集成DIB转换器解决方案
  • 兼容通用的测试机/分选机
  • 可选自动按钮或机械操作
  • 与已对接测试板无碰撞风险
  • 包含随附的冷测试盖在内,z轴叠加最小6.71毫米
  • 操作节约成本/时间
  • 坚固耐用的设计
  • 高达 -55°C/-67°F 的耐受温度
  • 集成DIB更换解决方案:
    - 侧绘图
    - 触控面板操作
    - 用户界面可编程
    - 单独的密码保护控制选项