EVOLUTION冷测试盖
减少时间和停机成本
- 革命性的、先进的对接（docking）和分选机处理室密封解决方案
- 直观的、新颖的设计
- 兼容通用型的半导体测试机和分选机
- 与第三方对接（docking）的兼容性将根据要求核实
- 防止CUH及分选机处理室结冰
- 操作温度范围从 -50 °C 到 +150 °C (-58 °F 到 +302 °F)
- 回流系统将吹扫空气引导回处理室 + 双密封板
- 冷测试盖组件永久地连接到分选机上
- 对接（docking)和对齐功能集成到冷测试盖组件中
- 用封闭的密封盖为测试单元提供服务，最长可达30分钟
- 自动或机械按钮系统操作选项
- 节省成本/时间+提高产量/质量的操作特性
- 耐用和坚固的设计
- 单一模块或集成的测试机-探针台接口对接板（DIB:docking interfacing board）解 决方案
- 可选产品功能和升级选项
- 传感器控制的温度检测 + 低温保护/报警系统
- 集成的测试机-探针台接口对接板（DIB）更换解决方案：
- dib 更换时间少于1分钟
- 侧面映射
- 触控面板操作
- 可编程的用户界面
- 独立的、受密码保护的控制选项
- 与宜世摩的lupo小车搭配使用，可以在1小时内将冷测试盖EVOLUTION安装到分选机上