+++ 新产品 +++ 冷测试盖EVOLUTION

宜世摩半导体推出减少停机时间的增强型设备

2013年,宜世摩推出了一款革命性、节省成本和时间的半导体测试机和探针台对接解决方案——半导体冷测试盖,备受半导体市场欢迎。

与我们对高质量标准的一贯承诺和积极响应半导体测试实验室需求相一致,我们持续地改进了该设备,现在我们非常高兴为宜世摩的客户群体呈现我们改进后的半导体冷测试盖EVOLUTION,可以大大减少停机时间。

这款先进的对接和分选机处理室密封解决方案优势是节省成本和减少停机时间。

宜世摩半导体冷测试盖EVOLUTION可以在换板期间关闭分选机的温度控制室,锁住冷空气,这项功能显著减少了因除冰过程而需要的停机时间。

兼容通用的测试机和分选机,以及各种可选的配套或升级功能。

根据不同的需求,可以选择单一模块或者集成了接口对接板(DIB)换板方案模块,以及可以选择自动或机械式、按钮式系统操作。

更多信息请点击了解:测试机/分选机处理室密封解决方案——冷测试盖。