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EVOLUTION冷测试盖
减少时间和停机成本

主要特点
  • 革命性的、先进的对接（docking）和分选机处理室密封解决方案
  • 直观的、新颖的设计
  • 兼容通用型的半导体测试机和分选机
  • 与第三方对接（docking）的兼容性将根据要求核实
  • 防止CUH及分选机处理室结冰
  • 操作温度范围从 -50 °C 到 +150 °C (-58 °F 到 +302 °F)
  • 回流系统将吹扫空气引导回处理室 + 双密封板
  • 冷测试盖组件永久地连接到分选机上
  • 对接（docking)和对齐功能集成到冷测试盖组件中
  • 用封闭的密封盖为测试单元提供服务，最长可达30分钟
  • 自动或机械按钮系统操作选项
  • 节省成本/时间+提高产量/质量的操作特性
  • 耐用和坚固的设计
  • 单一模块或集成的测试机-探针台接口对接板（DIB:docking interfacing board）解 决方案
  • 可选产品功能和升级选项
    • 传感器控制的温度检测 + 低温保护/报警系统
    • 集成的测试机-探针台接口对接板（DIB）更换解决方案：
      • dib 更换时间少于1分钟
      • 侧面映射
      • 触控面板操作
      • 可编程的用户界面
      • 独立的、受密码保护的控制选项
  • 与宜世摩的lupo小车搭配使用，可以在1小时内将冷测试盖EVOLUTION安装到分选机上
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