esmo 半导体测试接口对接（docking & interfaces）方案

在半导体测试中，测试机的测试头和分选机（handler）或晶圆探针台（wafer prober）需要对接产生信号联系，无论哪种对接方式（硬对接 （hard docking）亦或是直接对接（direct docking)）都是必要的。

在ATE 设备测试过程中，测试头(test head)和晶圆探针（prober）之间机械接口稳定连接相当重要。客户往往面临着频繁测试对接任务，测量精度要求高，不同的测试机和探针台组合，位移等一系列挑战......所以他们需要在测试机和探针台之间建立一组稳定的信号连接关系。

esmo集团拥有超过20年的设计制造探针台(prober)和测试机(tester)对接接口经验，所有esmo对接和接口产品(docking & interfaces)都可以与传统的处理器，探针台和测试机集成标准化的功能。

高对接力和可重复精度，模块化/稳定的设计，esmo精密设计提高了测试结果的准确性和完整性。 esmo对接和接口产品(docking & interfaces)可以快速设置，几乎不需要维护，提高了测试准确性。